光学测绘精度
光学测绘精度受多种因素影响，包括所使用的设备类型、技术规格、环境条件以及测量方法等。以下是一些具体的光学测绘精度数据：
激光测头精度
一般激光测头的精度大约在0.05mm左右。
使用特别激光测头可能达到稍高精度，但一般不会超过0.05mm，且与被测工件表面质量关系很大。
线阵CCD测头精度
采用线阵CCD的测头精度可能会高些，但一般限于二维测量时的精度，例如天津大学精仪系做的快速测量设备，精度在0.007mm。
视频方式采样机床精度
通过视频方式采样然后通过图形处理来得到被测点的方式，机床的精度应该在0.1mm以上。
光学影像坐标测量仪精度
光学影像坐标测量仪的精度通常较高，分辨率可达0.001mm，测量精度一般为（3+L/200）μm左右，其中L为载物台移动量。